涂层测厚仪的选型及影响因素

        涂层测厚仪的选择及其影响因素
??用户可根据测量需要选择不同的测厚仪。磁性测厚仪和涡流测厚仪的厚度一般为0-5毫米。此类仪器分为探头与主机一体，探头与主机分离，前者操作方便，后者适用于测量非平面形状。较厚的致密材料应采用超声波测厚仪测量，测得的厚度可达0.7-250mm。电解测厚仪适用于测量极细线上电镀金、银等金属的厚度。
??两用型
??该仪器德国生产，结合了磁性测厚仪和涡流测厚仪的功能。它可用于测量黑色金属和有色金属基材上的涂层厚度。如：
??铜、铬、锌等电镀层的厚度或钢上的油漆、油漆、搪瓷等镀层厚度。
??铝和镁材料上阳极氧化膜的厚度。
??铜、铝、镁、锌等有色金属材料的涂层厚度。
??铝、铜、金等箔条、纸、塑料薄膜的厚度。
??各种钢材和有色金属材料的热喷涂层厚度。
??该仪器符合GB/T4956和GB/T4957标准，可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
??仪器特点
??它采用双功能内置探头，自动识别铁基或非铁基材料，并选择相应的测量方法进行准确测量。
??符合人体工程学设计的双显示结构可以在任何测量位置读取测量数据。
??采用手机菜单式的功能选择方式，操作非常简单。
??可以设置上下限值。当测量结果超过或满足上下限值时，仪器会发出相应的声音或闪烁的灯光。
??稳定性*，通常无需校准即可长期使用。
??技术规格
??范围：0～2000μm，
??电源：两节AA电池
??标准配置
??常规型
??对材料进行表面保护和装饰，如涂层、电镀、覆层、层压、化学生成膜等而形成的覆盖层，在相关和国际标准中称为涂层。
??涂层测厚已成为加工业和表面工程质量检验的重要组成部分，是产品达到优良质量标准的一种手段。为使产品国际化，我国出口商品及涉外项目对涂层厚度有明确要求。
??涂层厚度的测量方法主要有：楔切法、光切法、电解法、厚差法测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁测量法和涡流测量法等。这些方法中的前五种是破坏性检测。测量方法繁琐、速度慢，多适用于抽样检验。
?? X射线和β射线法是非接触、无损测量，但设备复杂、价格昂贵，测量范围小。由于存在放射源，用户必须遵守辐射防护规定。 X射线法可以测量极薄的镀层、双层镀层和合金镀层。 β射线法适用于原子序数大于3的涂层和基材的测量。电容法仅用于测量细导体绝缘涂层的厚度。
??随着技术的不断进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁法和涡流法的测厚仪向小型化、智能化、多功能化、高精度化、实用化迈进了一步。测量分辨率达到0.1微米，精度可达1%，大大提高。它具有适用范围广、量程广、操作方便、价格低廉等特点，是工业和科研中广泛使用的测厚仪器。
??非破坏性方法既不损伤涂层也不损伤基体，检测速度快，可以经济地进行大量检测工作。
??影响因素
??a母材的磁性
??磁法测厚受母材磁性变化的影响（实际应用中低碳钢的磁性变化可以认为是轻微的），为避免热处理和冷加工等因素的影响，仪器应使用与试件母材性质相同的标准板进行校准；也可通过待涂试件进行校准。
?? b金属电性能
??母材的电导率对测量有影响，母材的电导率与其材料成分和热处理方法有关。用与试件母材性质相同的标准板校准仪器。
?? c母材厚度
??每个仪器都有一个临界厚度的母材。大于此厚度，测量不受母材厚度的影响。该仪器的临界厚度值如表1所示。
?? d边缘效应
??该仪器对试样表面形状的突然变化很敏感。因此，在试件的边缘或内角附近进行测量是不可靠的。
??电子曲率
??试样的曲率对测量有影响。这种效果总是随着曲率半径的减小而显着增加。因此，弯曲试样表面的测量是不可靠的。
?? f 试件变形
??探头会使软包试件变形，因此可以在这些试件上测量可靠的数据。
?? g表面粗糙粗糙度
??母材和覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增加，影响增加。粗糙的表面会导致系统误差和偶然误差。在每次测量中，应增加不同位置的测量次数，以克服这种偶然误差。如果母材粗糙，则必须在未镀膜的母材试片上取几个粗糙度相近的位置来校准仪器的零点；或使用不腐蚀母材的溶液溶解并去除覆盖层，然后校准仪器。零点。
?? g磁场
??周围各种电气设备产生的强磁场会严重干扰磁法测厚。
?? h粘性物质
??本仪器对阻碍探头与覆盖层表面紧密接触的物质敏感。因此，必须清除附着的物质，以确保仪器的探头与试件表面直接接触。
?? i 探头压力
??探头施加在试件上的压力会影响测量读数。因此，请保持压力恒定。
?? j探头的方向
??探头的位置对测量有影响。在测量过程中，探头应保持垂直于样品表面。
??须遵守的规定
??a金属特性
??对于磁性方法，标准板母材的磁性和表面粗糙度应与试件的母材相似。
??对于涡流法，标准片母材的电性能应与试件母材的电性能相似。
?? b母材厚度
??检查母材厚度是否超过临界厚度。如果不是，请使用 3.3 中的方法之一进行校准。
??边缘效果
??不应在试样的突然变化处测量，如边缘、孔洞和内角。
?? d曲率
??不应在试样的曲面上测量。
?? e读数次数
??通常，仪器的每个读数并不*相同，因此每个测量区域必须取多个读数。覆盖层厚度的局部差异也需要在任何给定区域进行多次测量，尤其是当表面粗糙时。
?? f表面清洁度
??测量前，去除表面附着的任何物质，如灰尘、油脂和腐蚀产物，但不要去除任何覆盖材料