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電鍍層測厚儀不僅能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析

更新時(shí)間:2023-06-26   點(diǎn)擊次數:684次

電鍍層測厚儀不僅能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析

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       電鍍測厚儀不僅能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。

  電鍍層測厚儀采用磁感應原理時(shí),利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。
  如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上 鍍鎳)。當軟芯上繞著(zhù)線(xiàn)圈的測頭放在被測樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測量感應電動(dòng)勢的大小,儀器將該信號放大后來(lái)指示覆層厚度。
  近年來(lái)的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術(shù),利用磁阻來(lái)調制測量信號。還采用設計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個(gè)數量級)?,F代的磁感應測厚儀,分辨率達到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。
  電鍍層測厚儀鍍層厚度的測量方法(標準曲線(xiàn)法)
  標準曲線(xiàn)法
  首先經(jīng)X射線(xiàn)照射后,鍍層和底材都會(huì )各自產(chǎn)生熒光X射線(xiàn),我們必須對這兩種熒光X射線(xiàn)能夠辨別,方能進(jìn)行鍍層厚度的測量。也就是說(shuō),鍍層和底材所含有的元素必需是不*相同的。這是測量鍍層厚度的先決條件。
  對某種金屬鍍層樣品進(jìn)行測量時(shí),基于鍍層厚度、狀態(tài)的不同,所產(chǎn)生的熒光X射線(xiàn)的強度也不一樣。
  鍍層厚度測量時(shí),可采用兩種不同方法,一種是注重鍍層中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線(xiàn)強度,稱(chēng)為激發(fā)法。另一種是注重底材中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線(xiàn)強度,稱(chēng)為吸收法。這兩種方法的應用必需根據鍍層和底材的不同組合來(lái)區分使用。

  鍍層厚度測量時(shí),測量已知厚度的標準樣品而得到其厚度及產(chǎn)生的熒光X射線(xiàn)強度之間的關(guān)系,并做出標準曲線(xiàn)。然后再測量未知樣品的熒光X射線(xiàn)強度,得到其鍍層厚度。但是需注意的是,熒光X射線(xiàn)法是從得到的熒光X射線(xiàn)的強度來(lái)求得單位面積的元素附著(zhù)量,再除以元素的密度來(lái)算出其厚度。所以,對于含有雜質(zhì)或多孔質(zhì)蒸鍍層等與純物質(zhì)不同密度的樣品,需要進(jìn)行修正。

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