紫外光耐候試驗的目的

2012-04-26 紫外光耐候試驗的目的由于光照和潮濕對材料的破壞，每年造成億萬(wàn)美元的經(jīng)濟損失。紫外光耐候試驗箱可以再現陽(yáng)光、雨水和露水所產(chǎn)生的破壞。紫外光耐候試驗可以在幾天內或幾周內再現戶(hù)外數月或數年的老化效果。紫外光耐候試驗通過(guò)將材料暴露在較高溫控條件下，在紫外光照和潮濕的交替循環(huán)中進(jìn)行測試。利用熒光紫外燈模擬陽(yáng)光，通過(guò)冷凝或噴淋的方式模擬露水和雨水。材料老化類(lèi)型包括：變色、失光、粉化、開(kāi)裂、裂紋、霧化、起泡、脆化、強度下降和氧化等。通常,UV燈管可分為UVA和UVB兩種。紫外光耐候試驗箱所...

恒溫恒濕試驗箱使用前注意事項

2012-04-14 恒溫恒濕試驗箱使用前注意事項：1.確認電源線(xiàn)是否依照規格妥善安裝及切實(shí)接好地線(xiàn)2.確認干球超溫保護開(kāi)關(guān)是否設定于本設備zui高溫度加10~20℃。此為本設備之安全結構范圍。3.檢查濕球超溫保護開(kāi)關(guān)是否設定于150℃注意：只做溫度試驗時(shí)應取下紗布，若紗布于85℃以上高溫情況下運轉后，下次運轉前，應更換紗布，否則可能無(wú)法再吸水，換裝紗布時(shí)，請先洗手（紗布包裝時(shí)，皆經(jīng)殺菌處理）4.確認--存水量是否夠？--水箱蓋子是否蓋妥？--是否清潔？（每月清洗一次，每三個(gè)月?lián)Q新紗布）5.確認-...

電腦式電解式膜厚計功能特點(diǎn)

2012-04-13 電腦式電解式膜厚計功能特點(diǎn)：下面主要介紹一種計算機控制的電解式膜厚計。這種電解式膜厚計利用計算機操作性更加提升，機能也更多樣。在電腦控制的條件下，電解式膜厚計數據處理顯得非常容易。這些優(yōu)勢主要通過(guò)下面幾點(diǎn)來(lái)顯示。1.可設置上下限值，當有異常值發(fā)生時(shí)，檢測值由紅色表示,并有警示音告知采用者。2.有采用標準的色帶的列表機，亦可采用熱感紙之列表機（選定）。3.采用白金電極（選定）及電位圖的檢測功能時(shí)，針對作雙重鎳及三重鎳檢測分析是非常容易的。4.電解式膜厚計檢測頻道zui多可登錄5...

恒定濕熱試驗箱使用說(shuō)明書(shū)

2012-04-12 恒定濕熱試驗箱使用說(shuō)明書(shū)一、概況：恒定濕熱試驗箱屬人工氣候模擬試驗設備之一，適用于科研單位、工礦企業(yè)、大專(zhuān)院校試驗室，對電工、電子及其它產(chǎn)品零部件、材料等進(jìn)行恒濕恒熱條件下的性能試驗。本試驗箱滿(mǎn)足國家標準GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Ca：恒定濕熱試驗方法》要求。本試驗箱執行國家標準GB10586《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。二、技術(shù)性能1．正常工作環(huán)境條件a．環(huán)境溫度：15～35℃；b．相對溫度：不大于85%；c．大氣壓強：86～106KPa；d．周?chē)鸁o(wú)強烈振動(dòng)；...

鹽霧試驗的原理

2012-04-12 鹽霧試驗的原理腐蝕是材料或其性能在環(huán)境的作用下引起的破壞或變質(zhì)。大多數的腐蝕發(fā)生在大氣環(huán)境中，大氣中含有氧氣、濕度、溫度變化和污染物等腐蝕成分和腐蝕因素。鹽霧腐蝕就是一種常見(jiàn)和zui有破壞性的大氣腐蝕。這里講的鹽霧是指氯化物的大氣，它的主要腐蝕成分是海洋中的氯化物鹽——氯化鈉，它主要來(lái)源于海洋和內地鹽堿地區。鹽霧對金屬材料表面的腐蝕是由于含有的氯離子穿透金屬表面的氧化層和防護層與內部金屬發(fā)生電化學(xué)反應引起的。同時(shí)，氯離子含有一定的水合能，易被吸附在金屬表面的孔隙、裂縫排擠并取...

科迪.振動(dòng)臺的基礎知識

2012-03-17 振動(dòng)臺專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)◎頻率范圍：振動(dòng)試驗系統在額定激振力下，zui大位移和zui大加速度規定的頻率范圍?！蝾~定推力：振動(dòng)試驗系統能夠產(chǎn)生的力（單位：N）；在隨機振動(dòng)時(shí)該力規定為均方根值?！騴ui大位移：振動(dòng)試驗系統能夠產(chǎn)生的zui大位移值。該值受振動(dòng)臺機械運行限制，通常用雙振幅表示（單位為：mmp-p）.◎zui大加速度：振動(dòng)試驗系統在空載條件下能夠產(chǎn)生的zui大加速度值（單位：m/s2）◎zui大速度：振動(dòng)試驗系統所產(chǎn)生的zui大速度（單位：m/s2）?！騴ui大載荷：振動(dòng)臺面上...

環(huán)境試驗設備國標目錄表

2012-02-24 環(huán)境試驗設備國標目錄表GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件GB10587-89鹽霧試驗箱技術(shù)條件GB10588-89長(cháng)霉試驗箱技術(shù)條件GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件GB10590-89低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)務(wù)件GB10591-89高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件GB10592-89高、低溫試驗箱技術(shù)條件GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件GB11159-89低氣壓試驗箱技術(shù)條件環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法GB/T5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數檢定...

可靠性試驗規範的詳細介紹

2012-02-23 可靠性試驗規範的詳細介紹IEC是世界上成立zui早的非政府性國際電工標準化機構，是聯(lián)合國經(jīng)社理事會(huì )(ECOSOC)的甲級諮詢(xún)組織。目前IEC成員國包括了絕大多數的工業(yè)發(fā)達國家及一部分發(fā)展中國家。這些國家擁有世界人口的80%，其生產(chǎn)和消耗的電能占*的95%，製造和使用的電氣、電子產(chǎn)品占*產(chǎn)量的90%?！鯥EC的宗旨：促進(jìn)電工標準的國際統一，電氣、電子工程領(lǐng)域中標準化及有關(guān)方面的國際合作，增進(jìn)國際間的相互瞭解。日本的自願性認證制度使用JIS標誌(日本工業(yè)標誌)。有兩種標誌圖案，一...